Микроскоп измерительный ИМ-Ц 3000 П ЧПУ
Микроскопы измерительные ИМ-Ц 3000 П ЧПУ
(Прибор прошел испытания на утверждение типа и внесен в Госреестр средств измерений!
№89837-23)
Назначение средства измерений
Микроскопы измерительные ИМ-Ц предназначены для измерений линейных и угловых размеров деталей.
Описание средства измерений
Основными элементами конструкции микроскопов являются гранитное основание, на которое установлены предметный столик с нижним осветителем и вертикальный портал с подвижной оптической системой, включающей в себя измерительный блок и верхний осветитель. Измерительный блок может оснащаться оптической окулярной и/или видеоизмерительной системой.
Принцип действия ИМ-Ц – считывание с электронных измерительных шкал осей X, Y значений перемещений подвижного предметного стола, и с измерительной шкалы оси Z значений перемещений видеоизмерительного блока. При измерениях по оси Z предусмотрена функция автоматической фокусировки. При необходимости, для измерений по оси Z, приборы могут быть оснащены контактным датчиком. Измерения могут проводиться в ручном или автоматическом режимах.
В качестве блока обработки и вывода результатов измерений микроскопы комплектуются персональным компьютером.
Элементы управления яркости освещения и выключения микроскопов могут располагаться на лицевой или боковой поверхности основания.
По заказу внешний дизайн и расположения органов управления могут быть изменены.
Метрологические характеристики
Значение |
|||
|---|---|---|---|
Модификация |
ИМ-Ц-3000 |
Возможные аналоги |
|
ИМ-Ц-2000 |
ИМ-Ц-2500 |
||
Диапазон измерений линейных размеров по оси X, мм |
от 0 до 2000 |
от 0 до 1500 |
от 0 до 1500 |
Диапазон измерений линейных размеров по оси Y, мм |
от 0 до 3000 |
от 0 до 2000 |
от 0 до 2500 |
Диапазон измерений линейных размеров по оси Z1), 2), мм |
от 0 до 350 |
||
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров: |
|||
для микроскопов класса точности 5 по оси (X, Y) 3), мкм |
±(3,0+L/75) |
||
|
для микроскопов класса точности 4 3), мкм: - по оси (X, Y) - в плоскости двух осей (X, Y) - по оси Z 2) |
±(2,8+L/200) ±(4,3+L/200) ±(2,8+L/100) |
||
|
для микроскопов класса точности 3 3), мкм: - по оси (X, Y) - в плоскости двух осей (X, Y) - по оси Z 2) |
±(1,8+L/200) ±(2,6+L/200) ±(1,8+L/100) |
||
|
для микроскопов класса точности 2 3), мкм: - по оси (X, Y) - в плоскости двух осей (X, Y) - по оси Z 2) |
±(1,3+L/100) ±(2,2+L/100) ±(1,7+L/100) |
||
|
для микроскопов класса точности 13), мкм: - по оси (X, Y) - в плоскости двух осей (X, Y) |
±(1,0+L/100) ±(2,1+L/100) |
||
Диапазон измерений плоского угла |
От 0º до 360º |
||
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений плоского угла |
±14ʺ |
||
|
1) по заказу возможно уменьшение диапазона, значение приведено в паспорте; 2) при наличии контактного датчика; 3) где L – длина объекта в мм; |
|||
Программное обеспечение ProfVision
с функцией автоматического сканирования контура
Отображение площади измерения
Эта область в основном используется для отображения изображения и его измерения. Пользователь может сделать более четкое изображение измеряемой детали, регулируя ось Z и освещение. Пользователь может перемещаться по осям X \ Y измеряемой детали и проводить измерения. Области изображения и область редактирования интегрированы в эту программу, пользователь может выполнять измерения на детали непосредственно с помощью панели инструментов.
Полное отображение на дисплее и панель инструментов.
Это окно для отображения всех объектов, которые были сделаны. Для некоторых деталей больших размеров, этот инструмент можно фиксировать только на локальной площади и редактировать элементы. Используя функцию полного отображения, пользователь получает более полную информацию изображения измеряемого элемента а также результаты измерений. Эта область обеспечивает параллельное движение, увеличение, уменьшение, общий обзор, элемент маркировки, сетку и вывод данных
Особенности программного обеспечения:
- Интерфейс программного обеспечения полностью на РУССКОМ языке (измерение стандартных геометрических элементов, интерфейс программы и формируемые протоколы измерений на РУССКОМ языке).
- Расширение программного обеспечения до уровня CAD (контроль деталей, состоящих из геометрических элементов, с использованием CAD-моделей).
- Возможность измерения деталей с криволинейным профилем.
- Возможность измерения параметров формы (измерение прямолинейности, параллельности, перпендикулярности, округлости, симметрии и т.д.)
- Возможность получения фактических размеров при сравнении с dxf моделями.
- Загруженная dxf модель должна являться программой для выполнения измерений.
- Возможность обратного инжиниринга, выгрузить электронный чертеж интегрировать в программу Компас, Autocad .
- Возможность редактирования протоколов измерений.
- Вывод протокола в форматах Word и Excel
- Наличие опции связи удаленного управления.
- Возможность плавной регулировки диаскопического и эпископического освещения по сегментам
- Возможность дублирования изображения на весь экран второго монитора каждого сектора по отдельности: сектор видеоизображения детали, сектор графической отрисовки измеряемых элементов, сектор показания систем координат, сектор кнопок управления, сектор параметров измеренных элементов, сектор регулировки освещения, а также любого другого сектора интерфейса программного обеспечения.
Наши преимущества:
- Стаж работы в деятельности – более 10 лет;
- Различные модели с диапазонами измерений от 50 до 3000 мм;
- Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины доходит до ±1,0 мкм;
- Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений угла до ±14 угловых секунд;
- Опытные специалисты разрабатывают методики измерений и комплектации микроскопов под индивидуальные задачи Заказчиков;
- Сервисные специалисты ведут сопровождения, по всем вопросам в течении всего периода службы приборов.
Для оформления заказа и дополнительных вопросов переходите в раздел Контакты.
